Année de production
2004
© Didier COT/CNRS Images
Référence
20040001_0597
Vue en coupe d'un dépôt métallique sur un support en silicium par procédé d'évaporation. L'observati
Vue en coupe d'un dépôt métallique sur un support en silicium par procédé d'évaporation. L'observation au microscope électronique à balayage permet de connaître l'épaisseur des couches et leurs morphologies. (Grossissement 25000x ; largeur de l'image : 4,6 microns)
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