20040001_0597

© Didier COT/CNRS Images

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20040001_0597

Vue en coupe d'un dépôt métallique sur un support en silicium par procédé d'évaporation. L'observati

Vue en coupe d'un dépôt métallique sur un support en silicium par procédé d'évaporation. L'observation au microscope électronique à balayage permet de connaître l'épaisseur des couches et leurs morphologies. (Grossissement 25000x ; largeur de l'image : 4,6 microns)

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