Année de production
1998
© Claude DELHAYE/CNRS Images
Référence
19980001_0037
Microscope à champ proche STM/AFM (Scanning Tuneling Microscope/Atomic Force Microscope) sous ultra-
Microscope à champ proche STM/AFM (Scanning Tuneling Microscope/Atomic Force Microscope) sous ultra-vide. Vue de dessus.
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