19980001_0037
© Claude DELHAYE/CNRS Images

Microscope à champ proche STM/AFM (Scanning Tuneling Microscope/Atomic Force Microscope) sous ultra-

Référence

19980001_0037

Année de production

1998

Taille maximale

29.51 x 19.47 cm / 300 dpi

Légende

Microscope à champ proche STM/AFM (Scanning Tuneling Microscope/Atomic Force Microscope) sous ultra-vide. Vue de dessus.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

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