Année de production
2011
© Benoît RAJAU/CNRS Images
20110001_0219
Vérification de la tension électrique appliquée à un filament de tungstène utilisé lors de l'évaporation d'une couche d'or sur un échantillon supraconducteur. Cette couche sert de référence pour la mesure optique. Elle est montée sur un cryostat permettant de mesurer la réflectivité d'un supraconducteur jusqu'à la température de l'hélium liquide (4 K). Le cylindre rouge à côté du cryostat est un détecteur infrarouge refroidi à l'azote liquide. Cet ensemble est monté sur un interféromètre à transformée de Fourier rapide qui couvre la gamme énergétique entre l'infrarouge lointain et l'ultraviolet. L'objectif est de mesurer la conductivité optique en large gamme spectrale (des micro-ondes aux UV) de matériaux supraconducteurs.
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2011
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