Focalisation système optique d'un microscope à force atomique sur un échantillon d'alumine

Focalisation système optique d'un microscope à force atomique sur un échantillon d'alumine nanoporeuse dans le but d'approcher la surface, de la sonde du microscope. La caractérisation de cet échantillon permet de réaliser l'image d'une membrane d'alumine poreuse. Cette membrane est utilisée pour la synthèse de nanofils magnétiques par voie électrochimique. L'objectif est de caractériser la topographie de cette membrane, le diamètre des pores et donc des nanofils. Les réseaux de nanofils magnétiques obtenus permettent d'étudier les processus de renversement de l'aimantation et de déplacement de parois de domaines magnétiques par MFM (Magnetic force microscope). Ces processus sont très dépendants du diamètre des nanofils et de leur espacement.