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Reference
20180015_0005
Installation d'un échantillon et d'une demi-grille en cuivre dans un microscope MEB-FIB
Mise en place d'un échantillon et d'une demi-grille en cuivre dans un microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (MEB-FIB). Cet équipement combine une colonne électronique pour imager l'échantillon pendant l'usinage et une colonne ionique à faisceau d'ions focalisés (FIB). Grâce à lui, il est possible d'observer la matière, de l'usiner et de créer des structures à l'échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie électronique en transmission (MET) avec grande précision et rapidité.
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