
© Christophe LEBEDINSKY/CNRS Photothèque
Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanisme
Reference
20060001_0322
Production year
2006
Max. size
42.27 x 28.18 cm / 300 dpi
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Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanismes d'interaction d'ions lents multichargés avec des objets nanométriques tels que des agrégats de gaz rares et détermination de la dynamique sur des échelles de temps de quleques femtosecondes. Les projets en cours de développement sur SIMPA ont des visées fondamentales tant au niveau de la structure atomique que de la dynamique d'interaction.