20060001_0322
© Christophe LEBEDINSKY/CNRS Photothèque

Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanisme

Reference

20060001_0322

Production year

2006

Max. size

42.27 x 28.18 cm / 300 dpi

Caption

Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanismes d'interaction d'ions lents multichargés avec des objets nanométriques tels que des agrégats de gaz rares et détermination de la dynamique sur des échelles de temps de quleques femtosecondes. Les projets en cours de développement sur SIMPA ont des visées fondamentales tant au niveau de la structure atomique que de la dynamique d'interaction.

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