
© Christophe LEBEDINSKY/CNRS Images
Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanisme
Référence
20060001_0322
Année de production
2006
Taille maximale
42.27 x 28.18 cm / 300 dpi
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Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Etude des mécanismes d'interaction d'ions lents multichargés avec des objets nanométriques tels que des agrégats de gaz rares et détermination de la dynamique sur des échelles de temps de quleques femtosecondes. Les projets en cours de développement sur SIMPA ont des visées fondamentales tant au niveau de la structure atomique que de la dynamique d'interaction.