Caption
Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel. A l'arrière plan, bâti expérimental de physique des surfaces en ultravide, comprenant le microscope à effet tunnel.
© Laurence MEDARD/CNRS Images
Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel.
Reference
20020001_0355
Production year
2002
Max. size
20 x 30 cm / 300 dpi
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