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Reference
20160056_0006
Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam)
Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.
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