Production year
2007
© François VRIGNAUD/CNRS Images
Reference
20080001_0023
Echantillon d'une couche de polymère sur une feuille d'indium à l'intérieur de la chambre d'analyse
Echantillon d'une couche de polymère sur une feuille d'indium à l'intérieur de la chambre d'analyse du spectromètre XPS, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X. L'émission d'électrons de surface (quelques couches atomiques) sous l'excitation d'un faisceau de rayons X, permet d'analyser la composition de la surface des matériaux (semi-conducteurs, poudres, nanotubes à usage médical), par imagerie chimique.
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