Résumé
L'ellipsométrie est une méthode optique permettant le contrôle de la croissance et des propriétés des couches minces. Ce clip illustre un exemple de transfert technologique entre un laboratoire de recherche et l'industrie.
L'ellipsomètre a été mis au point par une équipe d'un laboratoire du CNRS, le PICM (Physique des interfaces et des couches minces). Le responsable de l'équipe, Bernard Drévillon, explique l'intérêt de l'ellipsométrie : contrôle de la croissance d'un dépôt de couche mince en cours de processus et sans perturbation.
A partir de là, un produit commercial a été mis au point par une société spécialisée en instrumentation optique : Instruments SA Jobin-Yvon.
Pendant ce temps, les recherches se poursuivent au laboratoire pour la mise au point d'une 2e génération d'ellipsomètres qui permettraient de caractériser les surfaces à réflexion diffuse.
L'ellipsomètre a été mis au point par une équipe d'un laboratoire du CNRS, le PICM (Physique des interfaces et des couches minces). Le responsable de l'équipe, Bernard Drévillon, explique l'intérêt de l'ellipsométrie : contrôle de la croissance d'un dépôt de couche mince en cours de processus et sans perturbation.
A partir de là, un produit commercial a été mis au point par une société spécialisée en instrumentation optique : Instruments SA Jobin-Yvon.
Pendant ce temps, les recherches se poursuivent au laboratoire pour la mise au point d'une 2e génération d'ellipsomètres qui permettraient de caractériser les surfaces à réflexion diffuse.
