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20210158_0068

© Frédéric MALIGNE / LAPLACE / CNRS Images

Référence

20210158_0068

Transistor de puissance, nanostructure de cuivre et échantillon préparé pour une caractérisation MEB

Présentation d’un transistor de puissance au dessus d’une nanostructure de cuivre déposée sur un circuit imprimé (PCB). Sur la droite, un échantillon préparé en vue d’une caractérisation par microscopie électronique à balayage (MEB).

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Issues du même reportage : Génie électrique et plasma pour la transition énergétique au Laplace

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