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Référence
20210158_0068
Transistor de puissance, nanostructure de cuivre et échantillon préparé pour une caractérisation MEB
Présentation d’un transistor de puissance au dessus d’une nanostructure de cuivre déposée sur un circuit imprimé (PCB). Sur la droite, un échantillon préparé en vue d’une caractérisation par microscopie électronique à balayage (MEB).
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