Analyse de cristaux dans un échantillon de verre avec un spectromètre Raman

Chercheuse observant la répartition, la taille et la forme des cristaux dans un échantillon de verre à base d'oxyde de tellure, avec un spectromètre Raman "inVia Reflex Renishaw". Sur l'écran, la couleur noir/foncée correspond à la matrice vitreuse. Le but est d’optimiser ses paramètres de nucléation-croissance. L’objectif in fine est de corréler les exceptionnelles propriétés optiques non linéaires de ces matériaux à leur structure. Ce spectromètre possède notamment un module d’imagerie 3D haute résolution, permettant de collecter des informations structurales, à l’échelle des liaisons atomiques, de matériaux transparents à la longueur d’onde de travail. Les données sont enregistrées par séries de plans à l’intérieur du matériau et les images sont reconstruites en volume directement sur la totalité des données sur le paramètre que les chercheurs souhaitent visualiser (champ de contraintes, répartition de cristaux, hétérogénéités de phases).