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20150050_0011

© Cyril FRESILLON / LPCNO / CNRS Images

Référence

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Microscope à force atomique (AFM) intégré dans une boîte à gants sous atmosphère inerte

Microscope à force atomique (AFM) intégré dans une boîte à gants sous atmosphère inerte. Il permet d'observer des nanoparticules gravées par laser sur un substrat flexible. Ce projet a pour objectif la mise au point de micro-sources de stockage électrochimique d'énergie.

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