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20140001_0218

© Cyril FRESILLON / CRM2 / CNRS Images

Référence

20140001_0218

Diffractomètre à rayons X

Diffractomètre à rayons X. Il permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et à basse température (jusqu'à -173 °C).

Institut(s)

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Thématiques scientifiques

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