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20140001_0216

© Cyril FRESILLON / CRM2 / CNRS Images

Référence

20140001_0216

Installation et réglage d'un échantillon sur un diffractomètre à rayons X

Installation et réglage d'un échantillon sur un diffractomètre à rayons X. Cet appareil permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et à basse température (jusqu'à -173 °C).

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