Légende
Microscope à force atomique (AFM). Cet appareil permet de visualiser la topographie d'une surface avec une résolution nanométrique à partir de l'interaction entre l'échantillon et une pointe montée sur un microlevier.
© Alexis CHEZIERE/CNRS Images
Microscope à force atomique (AFM). Cet appareil permet de visualiser la topographie d'une surface av
Référence
20090001_1338
Année de production
2009
Taille maximale
26.01 x 17.3 cm / 300 dpi
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
