Année de production
2009
© Alexis CHEZIERE/CNRS Images
Référence
20090001_1338
Microscope à force atomique (AFM). Cet appareil permet de visualiser la topographie d'une surface av
Microscope à force atomique (AFM). Cet appareil permet de visualiser la topographie d'une surface avec une résolution nanométrique à partir de l'interaction entre l'échantillon et une pointe montée sur un microlevier.
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