
© Hubert RAGUET/CNRS Images
Introduction d'un échantillon dans le microscope à effet tunnel "M3" qui devrait permettre d'analyse
Référence
20090001_0820
Année de production
2009
Taille maximale
32.78 x 21.95 cm / 300 dpi
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Introduction d'un échantillon dans le microscope à effet tunnel "M3" qui devrait permettre d'analyser expérimentalement les propriétés électroniques de nano-objets dans des conditions extrêmes. Ce microscope à effet tunnel rassemble dans un même appareil : un STM (microscope à effet tunnel) fonctionnant sous fort champ magnétique, dans des conditions d'ultravide et des capacités de préparation in situ des échantillons à analyser. De plus l'appareil fonctionne à de très basses températures allant jusqu'au 0,29 kelvin. La combinaison de toutes ces caractéristiques permet d'envisager des observations expérimentales jusqu'alors impossibles pour diverses raisons techniques et d'améliorer la résolution des résultats expérimentaux déjà existants.