Année de production
2007
© François VRIGNAUD/CNRS Images
Référence
20080001_0021
Vue générale du dispositif XPS, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X. L'émission d'é
Vue générale du dispositif XPS, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X. L'émission d'électrons de surface (quelques couches atomiques) sous l'excitation d'un faisceau de rayons X, permet d'analyser la composition de la surface des matériaux (semi-conducteurs, poudres, nanotubes à usage médical), par imagerie chimique.
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