20080001_0021

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20080001_0021

Vue générale du dispositif XPS, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X. L'émission d'é

Vue générale du dispositif XPS, spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X. L'émission d'électrons de surface (quelques couches atomiques) sous l'excitation d'un faisceau de rayons X, permet d'analyser la composition de la surface des matériaux (semi-conducteurs, poudres, nanotubes à usage médical), par imagerie chimique.

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