Année de production
2006
© François JANNIN/CNRS Images
Référence
20060001_1606
CeCaMA : Centre de Caractérisation des Matériaux Avancés. Appareils de caractérisation chimique et m
CeCaMA : Centre de Caractérisation des Matériaux Avancés. Appareils de caractérisation chimique et morphologique à l'échelle submicronique. Microscopie à Champ Proche. L'étude de l'interaction fine pointe-échantillon permet de révéler la topographie de la surface de celui-ci à l'échelle de l'Angström. D'autres informations locales sont accessibles, mécaniques (dureté, friction), électriques (conductivité, effet tunnel), magnétiques, chimiques (variation de composition).
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