20060001_0318

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20060001_0318

Vue de la tête d'un microscope à champ proche sous ultra-vide. L'échantillon manipulé à l'aide d'une

Vue de la tête d'un microscope à champ proche sous ultra-vide. L'échantillon manipulé à l'aide d'une pince est enfiché au dessus de la céramique piézoélectrique qui contrôle le balayage de la pointe sur la surface. Un système d'amortissement par courant de Foucault permet d'isoler l'ensemble des vibrations extérieures. Une des caractéristiques de l'instrument est de pouvoir imager à l'échelle du nanomètre sur une large gamme de températures. Etude de matériaux oxydes sous forme de surfaces et de films ultra-minces de quelques plans atomiques.

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