Année de production
2006
© Alexis CHEZIERE/CNRS Images
20060001_0158
Vue de la chambre d'analyse d'un spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol (Time of flight Secondary Ion Mass Spectrometry TOF-SIMS), utilisant une source d'ions agrégats de bismuth et permettant de réaliser des images moléculaires par spectrométrie de masse de coupes de tissu à l'échelle du micromètre. Cette technique est utilisée pour la recherche et localisation de biomarqueurs à la surface de coupes de biopsies, applications au diagnostic de maladies génétiques, de cancers.
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2006
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