© Jean-Louis AUGUSTE/CNRS Images
Référence
20030001_1078
Composant sous test lors d'une mesure sous pointes, vu à travers l'objectif d'un microscope. Des éle
Composant sous test lors d'une mesure sous pointes, vu à travers l'objectif d'un microscope. Des électrodes de dimensions microscopiques permettent de mesurer les paramètres d'un composant MEMS (système micro-usiné de microélectronique) pour le caractériser expérimentalement.
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