Année de production
2002
© Fabien FAURE/CNRS Images
20030001_0847
Qualification sous radiation d'un convertisseur analogique-numérique avec le système de test THESIC+ (Testbed for Harsh Environment Studies of Integrated Circuits). Le système électronique visible est composé du testeur THESIC+ (vert foncé), et du composant à qualifier (vert clair). L'ensemble est monté dans une enceinte sous vide et sur un chariot mobile permettant de positionner le composant face au faisceau de particules. Le testeur permet de contrôler le comportement du composant lors de l'irradiation. Cette qualification est nécessaire avant l'emploi du composant dans un environnement hostile, par exemple pour une utilisation sur un satellite. La photo a été prise lors d'une campagne de test au Centre de Recherches du Cyclotron de l'Université Catholique de Louvain-la-Neuve, Belgique.
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2002
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