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Positionnement d'un échantillon dans le microscope à force atomique, sous ultra-vide.
© Claude DELHAYE/CNRS Photothèque
Positionnement d'un échantillon dans le microscope à force atomique, sous ultra-vide.
Référence
19980001_0034
Année de production
1998
Taille maximale
29.51 x 19.47 cm / 300 dpi
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