
© Jean-Pierre FILLARD/CNRS Images
Technique innovante pour mesurer le relief des semiconducteurs par traitement d'images interférentie
Référence
19940001_0090
Taille maximale
27.38 x 19.47 cm / 300 dpi
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Technique innovante pour mesurer le relief des semiconducteurs par traitement d'images interférentielles. Analyse du relief autour de la source, la grille et le drain d'un transistor métallique à effet de champ sur arséniure de gallium. (Réf. CNRS-INFO N°282 Mars 94).