L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Référence
20210117_0011
Placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé
Placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé. Ce dispositif est une station de tests sous pointes, haute tension, haute température et vide secondaire, qui permet de réaliser des mesures diélectriques, sur des échantillons de matériaux isolants ou de composants à semiconducteur passivés utilisés dans la conversion d'énergie.
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.
