L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Référence
20140001_0219
Réglage d'un échantillon cristallin sur un diffractomètre à rayons X
Réglage d'un échantillon cristallin sur un diffractomètre à rayons X, afin d'étudier sa structure à l'échelle atomique et à basse température. L'échantillon cristallin est visible sur l'écran.
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.
