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20140001_0219

© Cyril FRESILLON / CRM2 / CNRS Images

Reference

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Réglage d'un échantillon cristallin sur un diffractomètre à rayons X

Réglage d'un échantillon cristallin sur un diffractomètre à rayons X, afin d'étudier sa structure à l'échelle atomique et à basse température. L'échantillon cristallin est visible sur l'écran.

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