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20140001_0179

© Cyril FRESILLON / CRM2 / CNRS Images

Reference

20140001_0179

Enceinte échantillon d'un cryostat à bain d'hélium

Enceinte échantillon d'un cryostat à bain d'hélium au sein d'un diffractomètre à rayons X. Cet appareil permet d'étudier la structure cristalline de matériaux à très basses températures (jusqu'à -268 °C).

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