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Reference
20140001_0179
Enceinte échantillon d'un cryostat à bain d'hélium
Enceinte échantillon d'un cryostat à bain d'hélium au sein d'un diffractomètre à rayons X. Cet appareil permet d'étudier la structure cristalline de matériaux à très basses températures (jusqu'à -268 °C).
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