© Martin SEISS/CNRS Images
Référence
20130001_0391
Image en microscopie à force atomatique d'un défaut cristallographique
Image en microscopie à force atomatique d'un défaut cristallographique (micropipe), observé lors de la croissance d'un cristal de carbure de silicium. Le carbure de silicium est largement utilisé en électronique comme semiconducteur à haute température / haute pression.
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