Année de production
2002
© Richard LAMOUREUX/CNRS Images
Référence
20020001_0914
Appareil de diffraction des rayons X INEL à compteur courbe CPS120 (Curved Position Sensitive detect
Appareil de diffraction des rayons X INEL à compteur courbe CPS120 (Curved Position Sensitive detector 120°) équipé d'un dispositif de positionnement d'échantillon pour l'analyse des couches minces par incidence rasante. Opérateur procédant au positionnement initial de l'échantillon.
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