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20180057_0015
© Hubert RAGUET / CRISTAL INNOV / FIRST-TF / CNRS Photothèque

Mesure de surface par profilomètre optique

Reference

20180057_0015

Production year

2018

Max. size

50.73 x 33.87 cm / 300 dpi

Caption

Montmélian. Cristal innov. Caractérisation d'une lame cristalline à l'aide d'un profilomètre. Mesure point par point des défauts de planéité par une sonde confocale chromatique : la longueur d'onde captée en rétro-réflexion permet de déterminer la distance entre la lentille et le point sur la lame.

Scientific topics

CNRS Images,

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