Production year
2012
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
20120001_1683
Etude d'une transition de phase induite par la température, en ellipsométrie sur couche mince. Un faisceau de lumière blanche polarisé (à droite) est projeté sur l'échantillon. La polarisation après réflexion est déterminée par un analyseur (à gauche). L'étude des changements de polarisation après reflexion, permet de remonter aux propriétés optiques du matériau avant et après transition. Sur l'écran, on peut apercevoir un spectre. L'objectif est l'étude fondamentale des transitions de phase thermo-, piézo- et photo-induites dans les matériaux moléculaires. Les applications potentielles sont la réalisation de mémoires optiques (CD-Rom, DVD...), mais également de détecteurs de température, pression...
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2012
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