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20110001_0214

© Benoît RAJAU/CNRS Images

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Système de mesure de la réflectivité infrarouge et visible. Au centre de l'image, le cryostat permet

Système de mesure de la réflectivité infrarouge et visible. Au centre de l'image, le cryostat permet de travailler entre la température ambiante et celle de l'hélium liquide (4 K). Ce cryostat est monté sur un interféromètre à transformée de Fourier rapide qui couvre la gamme énergétique entre l'infrarouge lointain et l'ultraviolet. L'objectif est de mesurer la conductivité optique en large gamme spectrale (des micro-ondes aux UV) de matériaux supraconducteurs.

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From the same photo report: Laboratoire de Physique et d'Etude des Matériaux (LPEM)

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