20060001_0325
© Christophe LEBEDINSKY/CNRS Photothèque

Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Le faisceau d'ions,

Reference

20060001_0325

Production year

2006

Max. size

42.27 x 28.18 cm / 300 dpi

Caption

Ligne de faisceau sur la Source d'Ions Multichargés de Paris (dispositif SIMPA). Le faisceau d'ions, issu de la source ECR (résonance cyclotronique des électrons) est focalisé par un solénoïde. La sélection en q/m (q et m étant respectivement la charge et la masse de l'ion incident) est faite par un dipôle magnétique (pièce en bleu sur la photo). Le faisceau est transporté jusque dans la chambre de collision. Le faisceau d'ions interagit avec des agrégats nanométriques de gaz rare (Ar, Ne...) produits au sein d'un jet supersonique (au premier plan sur la photo). Ces études permettent de remonter au scénario proprement dit de l'interaction d'un ion multichargé avec la matière sur une échelle de quelques femtosecondes.

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