20060001_0156
© Alexis CHEZIERE/CNRS Photothèque

Introduction de l'échantillon dans un spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol (Tim

Reference

20060001_0156

Production year

2006

Max. size

17.3 x 26.01 cm / 300 dpi

Caption

Introduction de l'échantillon dans un spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol (Time of flight Secondary Ion Mass Spectrometry TOF-SIMS), utilisant une source d'ions agrégats de bismuth et permettant de réaliser des images moléculaires par spectrométrie de masse de coupes de tissu à l'échelle du micromètre. Cette technique est utilisée pour la recherche et localisation de biomarqueurs à la surface de coupes de biopsies. Applications au diagnostic de maladies génétiques, de cancers.

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