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Microscope électronique à transmission (TEM). Cet appareil permet de caractériser la structure cristallographique des échantillons à une échelle de 0,2 nanomètres. L'analyse s'effectuant par l'intermédiaire des électrons qui ont traversé la structure, les échantillons doivent être préalablement préparés sous forme de lames minces (100 nm) par des étapes de polissage. Ici, le chercheur optimise la mise au point du cliché de diffraction.
