Production year
2003
© Hubert RAGUET/THALES/CNRS Images
Reference
20030001_0524
Microscope à force atomique (AFM). On obtient des images représentant la surface de l'échantillon av
Microscope à force atomique (AFM). On obtient des images représentant la surface de l'échantillon avec une résolution de l'ordre de grandeur de l'atome. Grâce à une option permettant de mesurer en temps réel la résistance entre la pointe de l'AFM et la surface, cet appareil est également utilisé pour faire de la nano-lithographie dans des résines ou couches minces d'isolant. Le laboratoire a effectué des nanocontacts de 10 nm de diamètre.
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