Production year
2002
© Laurence MEDARD/CNRS Images
Reference
20020001_0309
Diffractomètre Rayons-X constitué d'un monochromateur ''OSMIC'' focalisant et d'un détecteur bidimen
Diffractomètre Rayons-X constitué d'un monochromateur ''OSMIC'' focalisant et d'un détecteur bidimensionnel ''imageplate''. Ce type de monochromateur permet d'obtenir un faisceau RX ponctuel et très intense (108 photons/s). De telles performances permettent de diminuer sensiblement les temps d'expérience par rapport à un diffractomètre classique. Le détecteur bidimensionnel permet d'étudier la structure de systèmes orientés. Ce montage permet l'étude de la structure de matériaux à l'échelle 0.1-30nm.
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