Introduction de l'échantillon dans un spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol (Tim

Introduction de l'échantillon dans un spectromètre de masse d'ions secondaires par temps de vol (Time of flight Secondary Ion Mass Spectrometry TOF-SIMS), utilisant une source d'ions agrégats de bismuth et permettant de réaliser des images moléculaires par spectrométrie de masse de coupes de tissu à l'échelle du micromètre. Cette technique est utilisée pour la recherche et localisation de biomarqueurs à la surface de coupes de biopsies. Applications au diagnostic de maladies génétiques, de cancers.