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Reference
20160097_0040
Wafer sur lequel sont effectuées des mesures sous pointes
Wafer sur lequel sont effectuées des mesures sous pointes (analyse de réseau, de spectre…). Une station permet de positionner les pointes afin qu'elles soient mises en contact électrique avec le circuit avec une précision de l'ordre de 10 à 20 µm. Suivant l’application, les mesures électriques permettent de caractériser les performances d’un circuit (gain, linéarité…) ou d’obtenir des informations sur le comportement électrique de composants afin d’en déduire un modèle électrique équivalent.
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