Fixation d'une lame mince dans un porte-objet qui sera introduit dans un MET

Fixation d'une lame mince dans un porte-objet qui sera introduit dans un microscope électronique en transmission (MET) pour mener des études de caractérisation structurale par diffraction électronique et d’imagerie haute résolution. Avec un MET les électrons sont accélérés à 200 kV et ils sont susceptibles d'être diffractés par les réseaux cristallins. La diffraction électronique permet l'identification de phases, ainsi que les relations d'orientation entre plusieurs cristaux. L'avantage de cette technique est de pouvoir accéder à de nombreuses informations microstructurales à une échelle nanométrique, en corrélation avec l'image. Par ailleurs, le couplage de la microscopie électronique et de la microanalyse chimique permet de disposer à la fois d'une information diffractionnelle, structurale directe et microchimique.