20050001_0750

© Christophe LEBEDINSKY/CNRS Images

Référence

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Diffractomètre à rayons X quatre cercles équipé d'un détecteur courbe permettant la caractérisation

Diffractomètre à rayons X quatre cercles équipé d'un détecteur courbe permettant la caractérisation de la micro-structure et de l'état de contrainte des matériaux cristallisés, et pouvant être sollicité à faible incidence. Elaboration de couches de diamant par plasma micro-onde pour des applications en électronique de puissance, des dispositifs à onde acoustique de surface, des fenêtres optiques ou drains de chaleur. Elles sont aussi utilisées pour la compréhension des processus se déroulant dans le plasma, des processus de croissance cristalline ainsi que la modélisation des phénomènes couplés.

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