Année de production
2005
© Jérôme CHATIN/CNRS Images
Référence
20050001_0673
Appareil de caractérisation de surface, spectromètre de rayonnement X : mise sous vide d'un échantil
Appareil de caractérisation de surface, spectromètre de rayonnement X : mise sous vide d'un échantillon à analyser.
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