Année de production
2003
© Martin HYTCH/CNRS Images
20030001_0957
Champ de déplacement autour d'une dislocation mesuré dans un matériau cristallin (silicium pur). Cette expérience vérifie, à l'échelle nanométrique, la théorie élastique anisotrope : à une distance de quelques nanomètres du coeur de la dislocation, le cristal se déforme différemment selon les directions cristallographiques distinctes. A gauche, les déplacements mesurés expérimentalement par microscopie électronique en transmission à haute résolution, avec une précision de 3 pm ; à droite, les déplacements calculés à partir de la théorie élastique.
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2003
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