© Thierry CHAUVEAU/LPMTM/CNRS Images
Référence
20010001_0558
Equipement de diffraction des rayons X haute résolution développé au LPMTM. On peut voir à gauche le
Equipement de diffraction des rayons X haute résolution développé au LPMTM. On peut voir à gauche le système de double fente qui permet de bien focaliser le faisceau et à droite le compteur courbe permettant de réaliser la mesure sur une large gamme angulaire. Ce dispositif permet de mesurer l'énergie de déformation stockée dans des matériaux fortement déformés. (Réf. CNRS INFO N°392 Avril 2001)
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