Année de production
1996
© Laurence MEDARD/CNRS Images
Référence
19960002_0115
Echantillons pion et plan en position de frottement. On peut voir la source de rayons X et le canon
Echantillons pion et plan en position de frottement. On peut voir la source de rayons X et le canon à électrons qui seront utilisés pour les analyses de surfaces par les spectrométries d'électrons Auger et de photoélectrons.
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
